werden. Die laterale Auflösung liegt hierbei typischerweise zwischen 1 um und mehreren hundert nm. Die Informationstiefe beträgt üblich 1-3 um. Sowohl die laterale Auflösung als auch die erreichbare Info […] Geräte: Helios Nanolab 600 XPS-Spektrum von Polycarbonat auf Stahl. Zu sehen ist das ausgewertete C1s-Spektrum mit der Zuordnung der verschiedenen Peaks zu den charakteristischen chemischen Bindungen im […] ng besetzt ein Elektron eines gefüllten elektronischen Bandes der Probenoberfläche den unbesetzten 1s-Zustand des Heliumatoms. Das He2s-Elektron wird in Folge emittiert. Elektronenspektroskopie mit me
Am Mittwoch, dem 25. September 2019 , findet im Institut für Mathematik der TU Clausthal, Erzstraße 1, in der Zeit von 9.30 Uhr bis 16.30 Uhr , eine Lehrerfortbildung zum oben genannten Thema in Kooperation […] Programm 09.30 - 09.45 Begrüßung 09.45 - 10.45 Die Wahrscheinlichkeitsrechnung im Gerichtssaal (Teil 1) (Dr. Raj Spielmann, Gymnasium Kirchenfeld, Bern) 10.45 - 11.15 Kaffeepause 11.15 - 12.15 Die Wahrs […] Optimierung zum Trainieren von künstlichen neuronalen Netzen: Beispiele und Anwendungen mit taramath (Teil 1) (Dr. Daniel Scholz, Volkswagen AG) 14.30 - 15.00 Kaffeepause 15.00 - 16.00 Von der nichtlinearen O
gen am Institut. Herausgeber: Institut für Mathematik, Technische Universität Clausthal, Erzstraße 1, 38678 Clausthal-Zellerfeld Die Reihe wurde wegen der zunehmenden Nutzung elektronischer Publikationsserver […] nsserver eingestellt. Erfasste Jahrgänge: 2011, 2010, 2009, 2008, 2007, 2006, 2005. 2011 2011/1 M. Keller, D. Lenz, H. Vogt, R. Wojciechowski: Note on basic features of large time behaviour of heat kernels […] Rösler: The heat semigroup in the compact Heckman-Opdam setting and the Segal-Bargmann transform 2010/1 L. Angermann: Residual type a posteriori error estimates for upwinding finite volume approximations
Herstellung von geeigneten Vorlegierungen zum effektiven Einbringen von TiC- und SiC-Partikeln kleiner als 1 Mikrometer in die Schmelze über die Legierungszusammensetzung und die Prozessparameter bei der Schm […] von bis zu 400°C. Durch ein besseres Verständnis zum Einfluss der Verstärkungsteilchen kleiner als 1 Mikrometer auf die mechanischen und gießtechnologischen Eigenschaften der Al-Si-Legierungen wird es
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getreu dem Motto „ Von Doktoranden für Doktoranden “ von den Promovierenden des BAM Fachbereiches 1.1 Anorganische Spurenanalytik. Die Arbeitsgruppe Materialanalytik war mit Frithjof Mähler mit seinem
coefficient. We prove maximal regularity estimates (including the prominent spaces $W^{1,p}$ and $W^{2,p}$ for $p\in(1,\infty)$ for the velocity field) in bounded domains of minimal regularity. Interestingly
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